一种光学距离调整环厚度测量装置及其测量方法
基本信息
| 申请号 | CN201510701502.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105203063B | 公开（公告）日 | 2018-03-06 |
| 申请公布号 | CN105203063B | 申请公布日 | 2018-03-06 |
| 分类号 | G01B21/08 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李全松;王东方;张辉;李显凌;杨怀江;隋永新 | 申请（专利权）人 | 北京国望光学科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 130000 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种光学距离调整环厚度测量装置及其测量方法，其中，厚度测量装置包括测量平台（4），在测量平台（4）上设置有贯穿上下的测量孔（41），在测量平台（4）下方设置有用于支撑的平台支架（3），在测量平台（4）的上方和下方还分别设置有上长度计（1）和下长度计（2），所述上长度计（1）和所述下长度计（2）分别与长度测量数显表（5）电连接，用于厚度的测量，该厚度测量装置和测量方法通过两个长度计分别对光学距离调整环的上下表面进行测量，能够准确夹持光学距离调整环结构翘曲变形部分，并且完成大尺寸光学距离调整环的测量，具有结构简单，设计合理，测量精准，适用范围广等优点。 |
