一种单层多点ITO的电气性能测试装置专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种单层多点ITO的电气性能测试装置

基本信息

申请号	CN201320368751.X	申请日	-
公开（公告）号	CN203385802U	公开（公告）日	2014-01-08
申请公布号	CN203385802U	申请公布日	2014-01-08
分类号	G01R31/00(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	涂宁涛	申请（专利权）人	彩虹（佛山）平板显示有限公司
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	彩虹（佛山）平板显示有限公司
地址	528300 广东省佛山市顺德区大良街道五沙新悦路13号
法律状态	-

摘要

本实用新型公开了一种单层多点ITO的电气性能测试装置，包括内部设置有测试电路板的主控箱；主控箱上设置有用于固定放置电容触摸屏功能片的ITO夹具；ITO夹具的上方设置有与测试电路板相连的FPC转接板，且FPC转接板上设置有与电容触摸屏功能片相接触的引脚；FPC转接板的上方设置有CCD对位装置；主控箱上还设置有用于调整FPC转接板位置的调整机构。本实用新型通过在内部设有测试电路板的主控箱上设置ITO夹具，然后在调整机构和CCD对位装置相配合的情况下对电容触摸屏功能片进行测试；本实用新型能方便调节ITO精确位置，其定位精度可达±0.03mm，准确度可达99%；本实用新型提高了电容触摸屏功能片测试效率，同时降低了周边金属材料寄生电容对其影响。