低温面形摄影测量方法
基本信息
| 申请号 | CN201510599033.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105403168B | 公开（公告）日 | 2017-12-12 |
| 申请公布号 | CN105403168B | 申请公布日 | 2017-12-12 |
| 分类号 | G01B11/24(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 钱元;娄铮;刘昌儒;范生宏;王海仁;左营喜;杨戟 | 申请（专利权）人 | 北京普达迪泰科技有限公司 |
| 代理机构 | 南京钟山专利代理有限公司 | 代理人 | 中国科学院紫金山天文台;北京普达迪泰科技有限公司 |
| 地址 | 210008 江苏省南京市鼓楼区北京西路2号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种低温面形摄影测量方法，其采用高分辨率工业相机，结合低温电机驱动的自动测试台，实现测量设备在低温环境实验舱中的自动化拍摄；利用常温下三坐标仪测量结果对靶标厚度进行标定，从而消除了由靶标厚度差异造成的系统测量误差。本发明在低温环境实验舱中，实现了2.1微米rms的重复测量精度、测量效果理想，可在常温至‑60℃的温度范围内测量了多种板材结构的面形的变化规律。 |
