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一种电子设备测试系统及方法

基本信息

申请号 CN201510161727.2 申请日 -
公开（公告）号 CN106154072A 公开（公告）日 2016-11-23
申请公布号 CN106154072A 申请公布日 2016-11-23
分类号 G01R31/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 付丙瑞;顾典;詹小奇 申请（专利权）人 上海炬力集成电路设计有限公司
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 代理人 朱佳
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区牛顿路200号8号楼701室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及通信领域，公开了一种电子设备测试系统及方法，该方法为：对待测设备执行上电操作并进行性能测试；在预设时间范围内，判断是否接收到待测设备返回的串口数据，并根据串口数据确定待测设备的工作状态，以及将测试产生的所有数据保存在指定存储空间中；对待测设备执行掉电操作，然后进入下一轮测试。这样，利用串口的RTS信号，从测试设备直接控制待测设备的上电和掉电状态，不仅操作方法简单，成本很低，而且一台测试设备可以控制多台待测设备，并同时记录多台待测设备的测试结果。