一种电子设备测试系统及方法
基本信息
| 申请号 | CN201510161727.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106154072B | 公开（公告）日 | 2019-02-15 |
| 申请公布号 | CN106154072B | 申请公布日 | 2019-02-15 |
| 分类号 | G06F11/00 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 付丙瑞;顾典;詹小奇 | 申请（专利权）人 | 上海炬力集成电路设计有限公司 |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人 | 上海际浩智能科技有限公司 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区碧波路690号2幢304B区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及通信领域，公开了一种电子设备测试系统及方法，该方法为：对待测设备执行上电操作并进行性能测试；在预设时间范围内，判断是否接收到待测设备返回的串口数据，并根据串口数据确定待测设备的工作状态，以及将测试产生的所有数据保存在指定存储空间中；对待测设备执行掉电操作，然后进入下一轮测试。这样，利用串口的RTS信号，从测试设备直接控制待测设备的上电和掉电状态，不仅操作方法简单，成本很低，而且一台测试设备可以控制多台待测设备，并同时记录多台待测设备的测试结果。 |
