一种待测设备、开发调试系统和通信方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种待测设备、开发调试系统和通信方法

基本信息

申请号	CN202110780381.X	申请日	-
公开（公告）号	CN113645093A	公开（公告）日	2021-11-12
申请公布号	CN113645093A	申请公布日	2021-11-12
分类号	H04L12/26（2006.01）I	分类	电通信技术;
发明人	万瑞罡	申请（专利权）人	芯来智融半导体科技（上海）有限公司
代理机构	北京新知远方知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	马军芳;张艳
地址	201210上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区碧波路500号101室
法律状态	-

摘要

本申请实施例中提供了一种待测设备、开发调试系统和通信方法，待测设备包括检测电路、复位接口、调试模块和复位模块，开发调试时主机通过检测电路与复位接口连接，复位接口与调试模块和复位模块连接；检测电路用于接收主机发送的交互信息；检测电路还用于测量交互信息的脉宽长度值；检测电路还用于将脉宽长度值与预设阈值进行比较，若脉宽长度值大于预设阈值，则将交互信息确定为复位信号，并通过复位接口将复位信号传输至复位模块；若脉宽长度值小于预设阈值，检测电路还用于将交互信息确定为调试信号，并通过复位接口将调试信号传输至调试模块。通过设置检测电路，能够使得调试接口与复位接口复用，解决了PCB空间和IC引脚占用过多的问题。