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一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法

基本信息

申请号	CN202110345508.5	申请日	-
公开（公告）号	CN113158441A	公开（公告）日	2021-07-23
申请公布号	CN113158441A	申请公布日	2021-07-23
分类号	G06F30/20;G06F119/02	分类	计算；推算；计数;
发明人	魏津;张经祥;吴艳平	申请（专利权）人	胜达克半导体科技（上海）股份有限公司
代理机构	上海专益专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	方燕娜;王雯婷
地址	201799 上海市青浦区清河湾路1130号1幢1层
法律状态	-

摘要

本发明涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机内提高抓取信号精度的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，取理想变化点；S2，取样本点，对每个样本点及理想变化点分别进行检测扫描，并记录每检测扫描结果；S3，多次重复步骤S2；S4，建立统计数据模型；S5，得到真实变化点；S6，重复步骤S2‑S5；S7，计算信号的整体偏差时间∆t；S8，将整体偏差时间∆t补偿在信号输入端。同现有技术相比，取一个时间周期内所有点，并对所有点进行多点、多次扫描获取若干个真实点的位置，再对若干个真实点取平均以覆盖一个周期内信号在各个位置变化的情况，充分考虑信号的分布，获取信号变化的精准位置进行补偿，从而提高信号抓取精度。