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一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路

基本信息

申请号	CN202121144435.5	申请日	-
公开（公告）号	CN214953930U	公开（公告）日	2021-11-30
申请公布号	CN214953930U	申请公布日	2021-11-30
分类号	G01R31/28（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	魏津;张经祥;吴艳平	申请（专利权）人	胜达克半导体科技（上海）股份有限公司
代理机构	上海专益专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	方燕娜;王雯婷
地址	201799上海市青浦区清河湾路1130号1幢1层
法律状态	-

摘要

本实用新型涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路。一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路，所述的高压通道自检模块包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口，HV0端口至HV3端口。同现有技术相比，提供一种集成电路测试机内高压数字通道自检模块的诊断电路，完成了普通的集成电路测试机内也能实现高压测试通道的自检的功能，增加了载具板的测试性能，大大降低了测试时间及测试成本。