一种高精度芯片测试时间成本分析系统
基本信息
| 申请号 | CN202022657165.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213600832U | 公开（公告）日 | 2021-07-02 |
| 申请公布号 | CN213600832U | 申请公布日 | 2021-07-02 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张经祥;魏津;杜宇 | 申请（专利权）人 | 胜达克半导体科技（上海）股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海唯智赢专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘朵朵 |
| 地址 | 201799上海市青浦区清河湾路1130号1幢1层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种高精度芯片测试时间成本分析系统，包括FPGA计时模块；FPGA计时模块分别与集成电路自动测试机和待测试模块连接；FPGA计时模块通过数据传输模块与上位机实现数据通讯。本实用新型的高精度芯片测试时间成本分析系统，采用硬件计时的方式即设置FPGA计时模块实现对芯片测试时间的高精度计时，测试精度可以达到10秒，远远优于同类传统ATE测试机的计时精度；硬件计时这一方式避免了上位机性能差异对计算测试所用时间的影响；整体结构较为简单，能够方便地对现有的装置进行改造，极具应用前景。 |
