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一种集成电路测试机的自诊断电路及方法

基本信息

申请号	CN202110577647.0	申请日	-
公开（公告）号	CN113311313A	公开（公告）日	2021-08-27
申请公布号	CN113311313A	申请公布日	2021-08-27
分类号	G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	魏津;张经祥;吴艳平	申请（专利权）人	胜达克半导体科技（上海）股份有限公司
代理机构	上海专益专利代理事务所（特殊普通合伙）	代理人	方燕娜;王雯婷
地址	201799上海市青浦区清河湾路1130号1幢1层
法律状态	-

摘要

本发明涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路及方法。包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD‑EVEN载具板、Utility Diag载具板，ODD‑EVEN载具板一端连接数字通道模块，ODD‑EVEN载具板另一端分别连接精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块，Utility Diag载具板连接多功能继电器模块；同现有技术相比，充分利用了集成电路测试机本身的资源，无需使用额外的测试设备，大大节省了设备成本。采用互联互测方案，对相同的测试项，可以并发性测试，奇数和偶数通道各测一次即可，节省了时间成本。