一种芯片测试机的远程监控和维护系统

基本信息

申请号 CN202022826594.5 申请日 -
公开(公告)号 CN213750199U 公开(公告)日 2021-07-20
申请公布号 CN213750199U 申请公布日 2021-07-20
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G05B19/042(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 张经祥;魏津;杜宇 申请(专利权)人 胜达克半导体科技(上海)股份有限公司
代理机构 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙) 代理人 刘朵朵
地址 201799上海市青浦区清河湾路1130号1幢1层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种芯片测试机的远程监控和维护系统,包括FPGA自检系统、通讯模块及远程监控服务器;FPGA自检系统与芯片测试机主控FPGA通讯连接且通过通讯模块与远程监控服务器连接;FPGA自检系统获取芯片测试机主控FPGA输出的芯片测试机运行数据信号后通过通讯模块发送至远程监控服务器,远程运维人员通过远程监控服务器即可获知芯片测试机当前运行状态,如有需要其可通过远程监控服务器、通讯模块、FPGA自检系统向芯片测试机主控FPGA发送处理指令,完成对芯片测试机的远程维护。本实用新型的系统,整体结构简单,成本低廉,实现对芯片测试机的远程监控和维护,大大降低了人力成本,极具应用前景。