一种用于PCBA裂片的耐磨检测结构

基本信息

申请号 CN202121522518.3 申请日 -
公开(公告)号 CN215414852U 公开(公告)日 2022-01-04
申请公布号 CN215414852U 申请公布日 2022-01-04
分类号 G01N3/56(2006.01)I;G01N3/02(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 殷鸿彬;吕义凯;张文志 申请(专利权)人 合肥宇隆光电科技有限公司
代理机构 合肥东邦滋原专利代理事务所(普通合伙) 代理人 王天马
地址 230000安徽省合肥市东方大道2177号合肥京东方视讯科技有限公司厂房
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种用于PCBA裂片的耐磨检测结构,属于PCBA裂片领域,包括上表面开口的透明壳体,所述透明壳体的后表面固定安装有承重板,所述承重板的上表面固定安装有L形板,所述L形板的上表面固定安装有电机一;利用透明壳体的包容性质,可以对电路板进行容纳,且摩擦带和支撑板组合的平面大小与透明壳体的开口大小相匹配,将多个电路板摆放在滤网板上,当摩擦带下落到透明壳体内时,相当于组合成一个半封闭的空间,使电路板在整个半封闭空间中进行摩擦检测,解决了耐磨检测装置固定困难的问题,无需使用多种设备,减少检测成本,提高检测效率,可以同时进行多个电路板对比检测,摩擦时产生碎屑较多的电路板耐磨性能差。