一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法及装置专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量方法及装置

基本信息

申请号	CN201710140503.2	申请日	-
公开（公告）号	CN106940301B	公开（公告）日	2019-10-11
申请公布号	CN106940301B	申请公布日	2019-10-11
分类号	G01N21/51;G01N21/27;G01N27/447	分类	测量；测试;
发明人	邱健;韩鹏;骆开庆;彭力	申请（专利权）人	清远华奥光电仪器有限公司
代理机构	广州科粤专利商标代理有限公司	代理人	华南师范大学
地址	510631 广东省广州市天河区石牌华南师范大学
法律状态	-

摘要

一种基于对称电场的颗粒zeta电位测量装置，其包括电泳电压源、U型透明管的样品池、光学相干模块、光电信号处理模块、数据处理器；电泳电压源的正极设在U型透明管的左端内，电泳电压源的负极设在U型透明管的右端内；光电信号处理模块包括光电探测器和自相关运算模块，光电探测器和自相关运算模块的数量都为两个，第一光电探测器的输出端与第一自相关运算模块的输入端电连接，第二光电探测器的输出端与第二自相关运算模块的输入端电连接；数据处理器的输入端分别与第一自相关运算模块、第二自相关运算模块的输出端电连接；光学相干模块包括激光光源和光学频移器。本发明能够剔除杂散光与电噪声引入的频谱成分，提高Zeta电位测量的准确性与稳定性。