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半导体激光器测试系统

基本信息

申请号 CN201510250455.3 申请日 -
公开（公告）号 CN104880298B 公开（公告）日 2018-04-17
申请公布号 CN104880298B 申请公布日 2018-04-17
分类号 G01M11/00 分类 测量；测试;
发明人 张丽雯;陆耀东;王涛;任奕奕;宋金鹏;张玉莹 申请（专利权）人 北京京仪光电技术研究所有限公司
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人 张洋;黄健
地址 100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种半导体激光器测试系统，包括多台测试仪、控制主机、测试仪电源线、测试仪供电电源、半导体激光器电源线和数据总线；每台测试仪与每个被测半导体激光器一一对应；每台测试仪通过数据总线与控制主机连接，通过测试仪电源线与测试仪供电电源连接，半导体激光器的电源受测试仪控制；测试仪包括处理器、存储器、功率传感器、电压传感器、电流传感器、温度传感器和制冷设备；处理器接收到控制主机发送的测试指令后断开与数据总线的电连接，控制上述各传感器进行参数数据采集，将参数数据处理结果存储在存储器中，实现了同时对多台半导体激光器的工作稳定性的高效、全面准确测试，且离线测试保证了长期测试过程中数据的安全可靠。