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半导体激光器离线测试方法

基本信息

申请号 CN201510251356.7 申请日 -
公开（公告）号 CN104880659B 公开（公告）日 2018-03-30
申请公布号 CN104880659B 申请公布日 2018-03-30
分类号 G01R31/26;G01M11/00 分类 测量；测试;
发明人 张丽雯;陆耀东;王涛;任奕奕;宋金鹏;张玉莹 申请（专利权）人 北京京仪光电技术研究所有限公司
代理机构 北京同立钧成知识产权代理有限公司 代理人 张洋;黄健
地址 100010 北京市东城区东皇城根北街甲20号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种半导体激光器离线测试方法，各待测试半导体激光器与各测试装置一一对应安装在测试平台上，所述各测试装置中分别包含电源模块，以对各测试装置供电，各测试装置通过数据总线与控制主机电连接，该方法包括：测试装置接收控制主机发送的包括各待测试参数的测试指令；测试装置断开与控制主机间的电连接，并控制分别与各待测试参数对应的传感器对待测试半导体激光器的各待测试参数分别进行参数数据采集；测试装置对采集到的参数数据进行数据处理，并存储处理结果；测试装置测试完成后断开与半导体激光器的连接，并将处理结果发送给控制主机，以实现对各半导体激光器工作参数的离线测试。