电子装备的可测试性分析方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN201710077765.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108427778A | 公开（公告）日 | 2021-07-13 |
| 申请公布号 | CN108427778A | 申请公布日 | 2021-07-13 |
| 分类号 | G06F17/50 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 徐志华;何代钦;朱勤;董国卿;张志昌 | 申请（专利权）人 | 北京国基科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王天尧;汤在彦 |
| 地址 | 100085 北京市海淀区上地信息路1号（北京实创高科技发展总公司1-1号）01-1幢4层A栋4层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种电子装备的可测试性分析方法及装置，包括：确定待构建电子装备所要实现的多个功能；确定多个功能之间的信息流关系；确定实现所述多个功能所需的多个硬件部件，建立硬件部件集；根据多个功能之间的信息流关系确定多个硬件部件之间的信号流关系；根据多个硬件部件之间的信号流关系，构建硬件部件集的多信号流图模型；根据所述硬件部件集的多信号流图模型确定所述硬件部件集的测试性指标；分析所述硬件部件集的测试性指标是否符合电子装备构建条件。本发明方法通过对功能层面的信息流分析，大大降低硬件层面测试性多信号流模型的建立。在功能层面即可了解测试性状态，辅助系统人员对测试性的考虑，降低测试性工作的难度，便于推广。 |
