一种用于辐射成像的Gamma计数探测器
基本信息
申请号 | CN200610011914.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN101074934B | 公开(公告)日 | 2011-10-19 |
申请公布号 | CN101074934B | 申请公布日 | 2011-10-19 |
分类号 | G01T1/16;G01N23/04 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 李元景;张清军;赵书清;李建华;李树伟 | 申请(专利权)人 | 清华同方威视技术股份有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 100083 北京市清华同方科技广场A座2907 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种用于辐射成像的Gamma计数探测器,属于辐射检测技术领域。本发明包括由光敏器件和闪烁晶体组成的探测器部件,与探测器部件连接的带放大回路、比较回路、数字脉冲输出回路的电路板和稳压器以及端面上置有与电路板电路连接的输出插座及包容整体的金属壳体。其结构特点是,所述闪烁晶体表面涂有反射层或者置有反光材料层并与光敏器件通过光学胶耦合粘接。闪烁晶体与光敏器件的连接整体置有避光材料层并由带减震垫的金属盒包容,金属盒表面亦置有避光材料层。同现有技术相比,本发明不仅增强了抗干扰能力,同时可使射线入射面的成像死区减小、调节高压和上下阈方便,与后续电路的互连方便。 |
