首页/ 扬州杰盈汽车芯片有限公司/ 专利详情

一种应用于半导体的磁力喷墨测试工艺

基本信息

申请号 CN201610741992.2 申请日 -
公开（公告）号 CN106328555A 公开（公告）日 2017-01-11
申请公布号 CN106328555A 申请公布日 2017-01-11
分类号 H01L21/66(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 葛宜威;崔亮;王毅 申请（专利权）人 扬州杰盈汽车芯片有限公司
代理机构 南京纵横知识产权代理有限公司 代理人 陶得天
地址 225008 江苏省扬州市维扬经济开发区荷叶西路6号
法律状态 -

摘要

摘要 一种应用于半导体的磁力喷墨测试工艺。提供了一种操作简单，能够高效快速剔除不合格晶粒的应用于半导体的磁力喷墨测试工艺。包括以下步骤：S1、先激光切割晶片呈半切透状，形成若干待分离的晶粒；S2、测试晶粒，区分不合格晶粒；S3、磁性墨水配制；S4、晶片喷墨，对不合格晶粒进行喷墨；S5、烘干，将喷墨后的晶片放置在烘箱内，烘箱温度为80‑100℃，时间为15‑25min；S6、裂片，将待裂晶片放置在两张防静电麦拉纸之间，再通过硬质胶棒滚碾晶片，使其分裂成若干晶粒；S7、磁铁吸附带墨水的不合格晶粒，完成。本发明降低了生产成本，提高了工作效率，成品率高。