液晶芯片设计检测方法、装置、存储介质及液晶显示系统
基本信息
| 申请号 | CN201910990614.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110781636A | 公开（公告）日 | 2020-02-11 |
| 申请公布号 | CN110781636A | 申请公布日 | 2020-02-11 |
| 分类号 | G06F30/3308 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 殷雪敏 | 申请（专利权）人 | 深圳慧新辰技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 | 代理人 | 深圳慧新辰技术有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区白石路3609号深圳湾科技生态园二区9栋B4座1501 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种液晶芯片设计检测方法、装置、存储介质及液晶显示系统，所述方法包括：获取设计液晶芯片的仿真数据；依据所述仿真数据，生成可视化的仿真图像；获取所述仿真图像的显示数据，并依据所述显示数据判断相应的像素点是否为缺陷点；依据对相应的像素点的判断结果，检测液晶芯片设计是否有缺陷。本发明能够快速有效检测到液晶芯片设计电路中的缺陷。 |
