一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法及其成像设备
基本信息
| 申请号 | CN202010043903.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111157110A | 公开（公告）日 | 2020-05-15 |
| 申请公布号 | CN111157110A | 申请公布日 | 2020-05-15 |
| 分类号 | G01J1/42;G01R31/12 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 罗时聪;郭丽萍;赵庆;赵文彬 | 申请（专利权）人 | 上海电气输配电试验中心有限公司 |
| 代理机构 | 北京前审知识产权代理有限公司 | 代理人 | 上海电气输配电试验中心有限公司 |
| 地址 | 200001 上海市静安区灵石路696号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种紫外成像的光子计数空间密度计算方法，包括以下步骤：S100：获得目标的紫外放电图像，所述紫外放电图像至少包括：目标的紫外图像信息以及目标的可见光图像信息的合成信息；S200：对所述紫外放电图像提取紫外光斑轮廓，其中，提取的原则包括：删除小面积的连通域的干扰项；S300：对紫外光斑轮廓内的空间光子密度计算；S400：根据预先实验统计所得到的紫外光子的衰减曲线，对所述空间光子密度进行校准。 |
