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一种真空高低温半导体器件测试探针台

基本信息

申请号 2020207440107 申请日 -
公开（公告）号 CN212410644U 公开（公告）日 2021-01-26
申请公布号 CN212410644U 申请公布日 2021-01-26
分类号 G01R1/04(2006.01)I;G01R31/26(2014.01)I 分类 测量；测试;
发明人 李喜荣 申请（专利权）人 杭州源峰检测技术有限公司
代理机构 合肥市科融知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 晋圣智
地址 311200浙江省杭州市萧山区新街镇山末址村1098号21栋
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种真空高低温半导体器件测试探针台，包括支撑台体和四个支撑腿，四个所述支撑腿分别通过螺栓安装在支撑台体的底部四角外壁，所述支撑台体的顶部四角外壁均固定安装有支撑杆，且四个支撑杆的顶部外壁固定安装有同一个支撑顶板，所述支撑顶板底部的两端外壁均固定安装有第一支撑板，且两个第一支撑板的底部外壁均开设有第一凹槽，两个第一凹槽的内壁固定安装有电动导轨，两个电动导轨的底部外壁均滑动连接有电动滑块。本实用新型通过设置有第二支撑板，并在第二支撑板上设置有照明灯和摄像头，方便通过照明灯对支撑壳体的内部环境进行照明，通过摄像头对测试效果进行拍摄记录，提高了检测的准确性。