一种AlGaN/GaNHEMT微波功率器件小信号本征参数提取方法
基本信息
申请号 | CN201711321484.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN108062442B | 公开(公告)日 | 2021-04-06 |
申请公布号 | CN108062442B | 申请公布日 | 2021-04-06 |
分类号 | G06F30/23(2020.01)I | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 陈勇波 | 申请(专利权)人 | 成都海威华芯科技有限公司 |
代理机构 | 成都华风专利事务所(普通合伙) | 代理人 | 徐丰;张巨箭 |
地址 | 610029四川省成都市双流县西南航空港经济开发区物联网产业园内 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种AlGaN/GaN HEMT微波功率器件小信号本征参数提取方法,包括:S1:采用有限元热仿真方法,提取GaN HEMT器件非线性热阻随器件功耗和尺寸的变化关系式;S2:利用冷态夹断偏置条件下的S参数测试数据,提取GaN HEMT器件常温下的寄生参数值;S3:利用不同的环境温度下器件脉冲I‑V的测试数据,提取寄生电阻Rs和Rd随温度的变化关系式,得到不同偏置条件下的Rs和Rd的值;S4:采用各个偏置条件下S参数的测试数据,寄生参数剥离,得到本征网络Y参数,计算器件小信号等效电路本征参数值。本方法引入寄生电阻Rs和Rd随温度的变化关系式,使得提取的本征参数值更可信、更具有物理意义。 |
