一种AlGaN/GaNHEMT微波功率器件小信号本征参数提取方法

基本信息

申请号 CN201711321484.X 申请日 -
公开(公告)号 CN108062442B 公开(公告)日 2021-04-06
申请公布号 CN108062442B 申请公布日 2021-04-06
分类号 G06F30/23(2020.01)I 分类 计算;推算;计数;
发明人 陈勇波 申请(专利权)人 成都海威华芯科技有限公司
代理机构 成都华风专利事务所(普通合伙) 代理人 徐丰;张巨箭
地址 610029四川省成都市双流县西南航空港经济开发区物联网产业园内
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种AlGaN/GaN HEMT微波功率器件小信号本征参数提取方法,包括:S1:采用有限元热仿真方法,提取GaN HEMT器件非线性热阻随器件功耗和尺寸的变化关系式;S2:利用冷态夹断偏置条件下的S参数测试数据,提取GaN HEMT器件常温下的寄生参数值;S3:利用不同的环境温度下器件脉冲I‑V的测试数据,提取寄生电阻Rs和Rd随温度的变化关系式,得到不同偏置条件下的Rs和Rd的值;S4:采用各个偏置条件下S参数的测试数据,寄生参数剥离,得到本征网络Y参数,计算器件小信号等效电路本征参数值。本方法引入寄生电阻Rs和Rd随温度的变化关系式,使得提取的本征参数值更可信、更具有物理意义。