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一种测试向量生成方法、装置及存储介质

基本信息

申请号 CN202210167471.6 申请日 -
公开（公告）号 CN114398848A 公开（公告）日 2022-04-26
申请公布号 CN114398848A 申请公布日 2022-04-26
分类号 G06F30/3308（2020.01）I;G06F30/323（2020.01）I;G06F30/333（2020.01）I 分类 计算；推算；计数;
发明人 钱静洁 申请（专利权）人 无锡玖熠半导体科技有限公司
代理机构 无锡市汇诚永信专利代理事务所（普通合伙） 代理人 朱晓林
地址 214000江苏省无锡市锡山区二泉东路19号集智商务广场201
法律状态 -

摘要

摘要 本申请公开了一种测试向量生成方法、装置及存储介质，涉及芯片领域，方法包括：获取测试芯片的测试网表，测试网表中包含测试芯片的扫描链中所有逻辑电路的测试节点及对应的测试管脚；根据测试网表确定测试芯片的目标测试类型和测试管脚的信号值，信号值用于对测试芯片的测试节点进行故障检测；基于测试管脚和测试值进行逻辑仿真，根据仿真输出值生成测试管脚的测试向量，并对具有相同测试向量的所述测试节点进行合并，获得合并后的目标测试向量。本发明通过标定测试网表中测试节点的方式来生成测试节点的测试向量，相比于根据测试管脚的数量来检测测试芯片，可以实现对测试向量的去冗余，且可以减少检测次数，提高芯片检测的测试效率。