基于扫描链结构的测试向量自动生成方法
基本信息
| 申请号 | CN202110761997.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113435152A | 公开（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申请公布号 | CN113435152A | 申请公布日 | 2021-09-24 |
| 分类号 | G06F30/333（2020.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 钱静洁 | 申请（专利权）人 | 无锡玖熠半导体科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海海颂知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 任益 |
| 地址 | 214101江苏省无锡市锡山区二泉东路19号集智商务广场201 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了基于扫描链结构的测试向量自动生成方法，在读入数字芯片的网表并将其转换成包括gate table和net table的数据库，然后加入相应的配置使数字芯片处于测试模式。分析该数据库格式的网表，得到完整的故障表，选取故障表中的一个故障,并推算其测试向量，对该测试向量进行压缩处理，以判断是否所有的gate电路都已经处理完毕。本发明通过预先在设计中插入的扫描链Scan Chain实现了可以为每一款芯片量身定制特定的测试向量的目的，而且可以快速且全自动地产生测试向量，从而有效提升了芯片可测试性设计过程中数字逻辑的覆盖率。 |
