一种用于集成电路的测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201921630999.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211014349U | 公开（公告）日 | 2020-07-14 |
| 申请公布号 | CN211014349U | 申请公布日 | 2020-07-14 |
| 分类号 | G01R1/02(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 李建中;夏中宇;徐雪舟 | 申请（专利权）人 | 无锡美偌科微电子有限公司 |
| 代理机构 | 苏州国卓知识产权代理有限公司 | 代理人 | 无锡美偌科微电子有限公司 |
| 地址 | 214135江苏省无锡市无锡新区菱湖大道200号中国传感网国际创新园A栋407室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于集成电路的测试装置，包括底座，底座上方通过升降组件固定安装有安装底板，安装底板上方通过伸缩杆活动安装有检测上板，安装底板两侧固定安装有支撑架，伸缩杆表面套接有缓冲弹簧，支撑架顶部中心竖直固定安装有第一液压升降缸，第一液压升降缸输出轴端通过探针安装座安装有若干检测探针，检测上板上表面两侧对角线设置有两个夹块，检测上板上表面均与间距铺设有若干真空吸盘，真空吸盘输入端连接有真空泵。本实用新型结构简单合理，大大方便了人们对集成电路进行检测，提升了集成电路的检测效率，且有效提升了集成电路的检测效果。 |
