一种耳机盖质量测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202022429918.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213305760U | 公开（公告）日 | 2021-05-28 |
| 申请公布号 | CN213305760U | 申请公布日 | 2021-05-28 |
| 分类号 | H04R29/00(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 吴师铭 | 申请（专利权）人 | 昆山度边电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 苏州欣达共创专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘盼盼 |
| 地址 | 215000江苏省苏州市昆山开发区平巷路1-2号3号楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种耳机盖质量测试装置，包括：支架、液压缸、撞击实验块、限位插杆、限位管、测试结构一以及测试结构二，所述支架上表面安装有液压缸，所述液压缸下端设有伸缩杆，所述伸缩杆上端穿过支架上表面，所述伸缩杆下端设有静压头，所述支架上端下表面右侧设有固定块一，所述固定块一下表面安装有限位插杆，所述限位插杆上端右侧安装有限位杆，与现有技术相比，本实用新型具有如下的有益效果：通过设置液压缸和测试结构一，可以快捷简单的获得耳机外壳在静压下的承重能力以及损坏的极限承重力，撞击实验块、限位插杆以及测试结构二的设计，可以直观的得出耳机保护壳在不同的撞击力度下的受损情况，便于测试耳机保护壳的质量。 |
