一种超声测距装置的校正方法
基本信息
申请号 | CN202011117016.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112444800A | 公开(公告)日 | 2021-03-05 |
申请公布号 | CN112444800A | 申请公布日 | 2021-03-05 |
分类号 | G01S7/52(2006.01)I;G01S15/08(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 陈志勇;陈智;于东亮 | 申请(专利权)人 | 中科传启(苏州)科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 215000江苏省苏州市高新区科技城锦峰路158号17幢201室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开的一种超声测距装置的校正方法,其包括以下步骤:将超声测距装置正对平整光滑的目标物体放置;超声测距装置对目标物体发射超声信号并接收反射回波信号;对回波信号进行处理并获取一次反射回波到达时间t1和二次回波到达时间t2;根据一次反射回波到达时间t1、二次反射回波到达时间t2以及超声信号实际飞行时间计算系统时延dt;更新超声测距装置内的系统时延dt,完成校正。本发明公开的一种超声测距装置的校正方法,无需额外校正装置,操作简单、成本低,有效提高超声测距装置精度。 |
