直接电子探测相机进行EBSD和TKD测试切换的装置
基本信息
| 申请号 | CN202011062009.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112051288A | 公开（公告）日 | 2020-12-08 |
| 申请公布号 | CN112051288A | 申请公布日 | 2020-12-08 |
| 分类号 | G01N23/203(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张伟;邓伟;许佳佳;彭璟;樊申腾;张涛 | 申请（专利权）人 | 深圳市美信检测技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京高沃律师事务所 | 代理人 | 深圳市美信检测技术股份有限公司 |
| 地址 | 518108广东省深圳市宝安区石岩街道松白公路北侧方正科技工业园研发楼1108室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开直接电子探测相机进行EBSD和TKD测试切换的装置，涉及测试装置技术领域，主要结构包括包括底座、滑动臂、中间臂和前臂；所述滑动臂可滑动的设置于所述底座上，所述中间臂可转动的设置于所述滑动臂与所述前臂之间，直接电子探测器设置于所述前臂的前端。通过调整中间臂和前臂的角度以改变直接电子探测器的角度，通过滑动臂改变直接电子探测器的的水平方向的位置，从而能够实现方便、快捷、自动地在块体材料的EBSD和薄样品的TKD之间切换。使用DED相机，利用其没有光纤或透镜的优点，便于大角度切换其采集方向。 |
