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一种半圆孔测量用检具

基本信息

申请号 2020210305562 申请日 -
公开（公告）号 CN212409653U 公开（公告）日 2021-01-26
申请公布号 CN212409653U 申请公布日 2021-01-26
分类号 G01B21/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 束勇方 申请（专利权）人 江苏江大金属表面处理技术研究院有限公司
代理机构 北京艾皮专利代理有限公司 代理人 冯铁惠
地址 224100江苏省盐城市大丰区经济开发区西康南路61号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种半圆孔测量用检具，属于检具技术领域，解决了现有装置不能灵活的调节检测设备的位置，降低了检测效率的问题；其技术特征是：包括支撑柱和支撑横板，支撑柱的顶部固定安装有支撑横板，支撑横板上设有测量机构，测量机构包括调节组件、升降组件和检测组件，调节组件安装在支撑横板上，调节组件连接有升降组件，升降组件的一侧设有检测组件；本实用新型实施例设置了升降组件，能对检测组件的高度进行灵活的调节，进而适应不同环境下半圆孔的测量工作，且调节方便，操作简单，利于推广使用。