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一种用于芯片自动化检测的治具

基本信息

申请号 CN201922424262.1 申请日 -
公开（公告）号 CN211698073U 公开（公告）日 2020-10-16
申请公布号 CN211698073U 申请公布日 2020-10-16
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01N21/84(2006.01)I 分类 -
发明人 张俊堂;李海峰;魏菊;方正;杨会泉 申请（专利权）人 豪威半导体（太仓）有限公司
代理机构 北京连和连知识产权代理有限公司 代理人 刘小峰
地址 215411江苏省苏州市太仓市科教新城健雄路20号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种用于芯片自动化检测的治具，包括水平调节机构、支架、治具底座、治具上盖、测试镜头、水平驱动机构和竖直驱动机构，支架设置在水平调节机构上，利用水平驱动机构调节支架水平位置，治具底座设置在支架上，治具上盖通过竖直驱动机构和水平驱动机构设置在支架上，利用水平驱动机构驱动治具上盖向治具底座水平移动，利用竖直驱动机构驱动治具上盖竖直移动，测试镜头设置在治具上盖上。本实用新型将测试治具分体设置，通过水平驱动机构和竖直驱动机构实现治具的自动开合盖；并且在治具上设置定位凹槽和定位凸块实现X轴方向的定位，第一定位斜面和第二定位斜面实现Y轴方向的定位，保证测试镜头与芯片对齐。