一种半自动化测试工装
基本信息
申请号 | CN202023293698.0 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN213875783U | 公开(公告)日 | 2021-08-03 |
申请公布号 | CN213875783U | 申请公布日 | 2021-08-03 |
分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 张俊堂;方俊勇;嵇杰;方正;李海峰;魏菊 | 申请(专利权)人 | 豪威半导体(太仓)有限公司 |
代理机构 | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人 | 夏晓杰 |
地址 | 215411 江苏省苏州市太仓市科教新城健雄路20号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种半自动化测试工装,包括机架、机台测试座、上盖和驱动机构,机台测试座和驱动机构设置在机架上,且驱动机构位于机台测试座的上方,上盖设置在驱动机构上,利用驱动机构驱动上盖向下移动扣合于机台测试座上;本实用新型结构简单,操作方便,可同时进行多个芯片测试,大大提高了检测效率;同时更换机台测试座及上盖,以更改测试芯片型号,通过设备的通用性,并且能够利用芯片检测硬件是否存在问题,进而节约了时间,避免在硬件在机台上测试影响正常生产秩序。机台测试座设置滑动机构,使得机台测试座能够水平抽出,以方便工作人员取放工件。 |
