高能量X射线异物检测控制系统
基本信息
申请号 | CN201220042252.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN202472339U | 公开(公告)日 | 2012-10-03 |
申请公布号 | CN202472339U | 申请公布日 | 2012-10-03 |
分类号 | G05B19/05(2006.01)I | 分类 | 控制;调节; |
发明人 | 孙轶;陆志文;吴家荣 | 申请(专利权)人 | 上海高晶检测科技股份有限公司 |
代理机构 | 上海光华专利事务所 | 代理人 | 上海高晶检测科技股份有限公司 |
地址 | 200433 上海市杨浦区翔殷路128号11号楼A座101-111室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型提供一种高能量X射线异物检测控制系统,所述高能量X射线异物检测控制系统包括采用多线程操作模式的高速控制器、FPGA、用以实现网络通信的网络芯片,第一外部设备,第二外部设备;所述高速控制器分别与FPGA、网络芯片和第一外部设备相连;所述FPGA与第二外部设备相连。本实用新型整合入了ARM9控制器的自动识别功能,提高了检测控制系统的处理速度,充分利用了ARM9控制器的处理效率;采用FPGA实现了系统输入输出接口的扩展,增强了系统的控制能力,同时FPGA对信息的预处理功能相应减轻了检测控制系统的工作负担;采用网络芯片提高了网络传输速率,增强了图像分辨率,提高了连接的稳定性。 |
