一种低时延的试验仪器测控系统结构及其方法
基本信息
| 申请号 | CN202010248912.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113032324A | 公开（公告）日 | 2021-06-25 |
| 申请公布号 | CN113032324A | 申请公布日 | 2021-06-25 |
| 分类号 | G06F15/163;G06F3/05 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 赵国峰;李守东 | 申请（专利权）人 | 大连新亮兴电子技术有限公司 |
| 代理机构 | 上海宏威知识产权代理有限公司 | 代理人 | 赵芳梅 |
| 地址 | 110000 辽宁省大连市金州区保税区洞庭路1号自贸大厦732D-7室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种低时延的试验仪器测控系统结构，其包括MCU处理器、与所述MCU处理器连接若干功能模块，各所述功能模块中包括若干依据功能说明划分的外设器件；每一功能模块均通过CPLD可编程门阵列芯片编程驱动；各所述CPLD可编程门阵列芯片再以并行总线的方式与所述MCU处理器进行交互。本申请的低时延的试验仪器测控系统结构可解决在试验仪器领域高性能处理器与低性能、多样性的外设单元之间通讯瓶颈问题，从而实现系统低时延的，解决了本行业对控制系统要求高实时性的问题。 |
