显示面板及其不良像素的测试方法、显示装置
基本信息
| 申请号 | CN202210002073.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114283720A | 公开（公告）日 | 2022-04-05 |
| 申请公布号 | CN114283720A | 申请公布日 | 2022-04-05 |
| 分类号 | G09G3/00（2006.01）I | 分类 | 教育；密码术；显示；广告；印鉴; |
| 发明人 | 蔡丹;张铁轶;权基瑛;强柳;张雷;刘金 | 申请（专利权）人 | 绵阳京东方光电科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 雷思鸣 |
| 地址 | 100015北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本公开提供了一种显示面板及其不良像素的测试方法、显示装置，属于显示技术领域。该显示面板中的测试元件组包括第一测试电路、第二测试电路和第三测试电路共三个测试电路。其中，第一测试电路和第二测试电路均与第三测试电路耦接，以控制第三测试电路生成第一测试信号，该第一测试信号能够经第二测试电路形成第二测试信号并经测试探针传输至测试设备。如此，可以基于像素电路的结构，灵活设置测试元件组包括的每个测试电路的结构，以使得测试元件组输出至测试设备的第二测试信号接近像素电路向发光元件输出的驱动信号，进而使得测试设备基于该第二测试信号可靠确定像素电路是否异常。即，采用该测试元件组测试显示面板中不良像素的可靠性较好。 |
