PCIE控制器的测试方法、装置、设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202010246043.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111447121A | 公开（公告）日 | 2020-07-24 |
| 申请公布号 | CN111447121A | 申请公布日 | 2020-07-24 |
| 分类号 | H04L12/26(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 吴胜;张宝祺;黄帅;符兴建 | 申请（专利权）人 | 龙芯中科（北京）信息技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 | 代理人 | 龙芯中科（北京）信息技术有限公司 |
| 地址 | 101111北京市北京经济技术开发区科谷一街10号院10号楼1层101室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例提供一种PCIE控制器的测试方法、装置、设备及存储介质，第一PCIE控制器的接收端与发送端通过至少一个测试卡短接，每个测试卡之间的总线宽度相同，包括：接收测试指令，测试指令包括测试卡的总线宽度；根据测试卡的总线宽度确定芯片中的第一PCIE控制器，获取第一PCIE控制器对应的配置头中存储的连接参数；根据连接参数，输出与连接参数对应的第一PCIE控制器的测试结果。在硬件上通过廉价且通用的测试卡短接第一PCIE控制器的收发端，配合简单的软件测试方法，通过一条测试指令获取PCIE控制器对应的配置头中存储的连接参数即可实现对PCIE控制器的测试，在降低测试成本的同时提高测试效率、使用率。 |
