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测试装置

基本信息

申请号 CN202020729338.1 申请日 -
公开（公告）号 CN212808504U 公开（公告）日 2021-03-26
申请公布号 CN212808504U 申请公布日 2021-03-26
分类号 G01R1/04(2006.01)I;G05D23/24(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 陈朝灿 申请（专利权）人 龙芯中科（北京）信息技术有限公司
代理机构 北京润泽恒知识产权代理有限公司 代理人 莎日娜
地址 100176北京市大兴区经济技术开发区科谷一街10号院10号楼1层101室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供了一种测试装置，用于芯片加热老化测试，测试装置包括测试座和温控组件；温控组件包括多个加热器和控制组件，所述多个加热器中任意一个加热器与所述控制组件电连接，其中，多个加热器中不同的加热器分别具有不同的规格尺寸；在芯片和加热器放置于测试座内的情况下，控制组件控制加热器对芯片加热。在本实用新型实施例中，在该测试装置中将加热器与测试座分离，可在测试时使用与芯片规格型号匹配的对应加热器，而无需整体更换测试装置，因而，提高了通用性，减少了测试装置的重复浪费，降低了测试复杂度。