一种基于Burr分布的瓷绝缘子红外测零温度阈值判定方法

基本信息

申请号 CN201810726917.8 申请日 -
公开(公告)号 CN109142991B 公开(公告)日 2020-08-07
申请公布号 CN109142991B 申请公布日 2020-08-07
分类号 G01R31/12;G01J5/00;G06F30/20 分类 -
发明人 尹骏刚;陈高洋;汪宵飞;万勋;姚建刚 申请(专利权)人 湖南湖大华龙电气与信息技术有限公司
代理机构 北京华仲龙腾专利代理事务所(普通合伙) 代理人 湖南湖大华龙电气与信息技术有限公司;国网湖南省电力有限公司电力科学研究院
地址 410007 湖南省长沙市雨花区韶山北路388号(水电街79号)
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种基于Burr分布的瓷绝缘子红外测零温度阈值判定方法,包括步骤:S1、获取零值绝缘子串样本作为实验零值绝缘子串样本;S2、获取实验零值绝缘子串样本中的零值绝缘子铁帽与两片正常绝缘子铁帽的温度,并计算平均温差;S3、获取实验零值绝缘子串样本中不同绝缘子串的零值绝缘子的平均温差数据,得到零值绝缘子的平均温差数据样本;S4、采用三参数Burr分布对平均温差数据样本进行分布拟合获取零值绝缘子平均温差分布;S5、检验平均温差数据样本是否符合三参数Burr分布,若是执行步骤S6;S6、计算拟合的函数分布图像大于数值T的概率,其中数值T为任意正数;S7、概率是否大于预设概率值,若是则执行步骤S8;S8、将数值T作为红外测零温度阈值。