基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法
基本信息
| 申请号 | CN202010795364.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111917485A | 公开（公告）日 | 2020-11-10 |
| 申请公布号 | CN111917485A | 申请公布日 | 2020-11-10 |
| 分类号 | H04B10/54(2013.01)I;H04B10/524(2013.01)I | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 付松年;何欢;黄秋元;马超 | 申请（专利权）人 | 武汉普赛斯电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 湖北天领艾匹律师事务所 | 代理人 | 武汉普赛斯电子技术有限公司 |
| 地址 | 430000湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力节能环保科技企业孵化器(加速器)一期9栋4层车间1号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法，所述装置包括待测信号输入端、本振脉冲光源，待测信号输入端、本振脉冲光源均连接到3×3光耦合器，3×3光耦合器的输出分为三路，其中第一路输出经光电探测器一、模数转换器一连接到数字信号处理单元，第二路输出经光电探测器二、模数转换器二连接到数字信号处理单元，第三路输出经光电探测器三、模数转换器三连接到数字信号处理单元。本申请的基于线性光采样的强度调制光信号眼图测量装置及方法，具有高灵敏度、高保真度、高分辨率；简化了线性光采样的光学前端，降低了硬件开销；光电探测器不平衡度易补偿，简单可靠；可测量任意强度调制光信号，对本振脉冲光源的要求低。 |
