电子器件老化试验系统
基本信息
| 申请号 | CN202110739083.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113406423A | 公开（公告）日 | 2021-09-17 |
| 申请公布号 | CN113406423A | 申请公布日 | 2021-09-17 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 周鹏;马超;徐智号;唐朋 | 申请（专利权）人 | 武汉普赛斯电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 武汉维盾知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 彭永念 |
| 地址 | 430014湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道308号光谷动力绿色环保产业园9栋4楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种电子器件老化试验系统，包括壳体，在壳体内设有支架，支架用于承载多个老化试验模块，支架将壳体内腔分隔为进风风道和回风风道；支架上设有多个试验进风口，试验进风口对准老化试验模块，试验进风口连通进风风道和回风风道；进风风道与回风风道之间设有循环风机，以使风在进风风道与回风风道之间往复循环。能够均匀的分配给予各个试验元件的测试环境，确保试验结果的一致性。设置的加热装置、温度传感器、循环风机、电控新风口和主控装置的组合，能够在安全可控的范围内，利用模拟的极限环境，加速得出试验结果。设置的进风压力传感器、回风压力传感器和主控装置的组合，还能够进一步的提高试验的效率。 |
