一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202111246597.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113985133A | 公开（公告）日 | 2022-01-28 |
| 申请公布号 | CN113985133A | 申请公布日 | 2022-01-28 |
| 分类号 | G01R27/02（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;B65G49/07（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 帅晓晴;蔡薇;吴倩楠;王新;何园彰;仲期胜 | 申请（专利权）人 | 江西昶龙科技有限公司 |
| 代理机构 | 南昌中擎知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 陈海涛 |
| 地址 | 332000江西省九江市柴桑区沙城工业园（九江庆辉实业有限公司内） | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置，包括：用于输送厚膜晶片的输送带一；固定于所述输送带一前端面的工作台，所述工作台上端面安装有与所述输送带一平行设置的输送带二。本发明中，通过往复移动的吸盘，可以将生产线上带有厚膜电阻的晶片，取样移动至输送带二上进行电阻检测，并且安装不同数量的吸盘，与现有抽样装置相比，吸盘可以吸附在取样晶片的居中位置，防止抽样过程中造成晶片受力不均匀，断裂损坏的情况，可以根据生产线上不同数量的晶片，自由控制抽样数，提高抽样检测的精准度，且抽样速度快，无需停止生产线进行上下料抽样，更适用于厚膜晶片电阻大批量生产和抽样检测作业，提高工厂的加工效率。 |
