一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪及针对大体积样品的X射线荧光光谱检测方法
基本信息

| 申请号 | CN201210052157.X | 申请日 | - |
| 公开(公告)号 | CN103293174A | 公开(公告)日 | 2013-09-11 |
| 申请公布号 | CN103293174A | 申请公布日 | 2013-09-11 |
| 分类号 | G01N23/223(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
| 发明人 | 杨李锋;张峰;刘铎 | 申请(专利权)人 | 纳优科技(北京)有限公司 |
| 代理机构 | 北京尚诚知识产权代理有限公司 | 代理人 | 鲁兵 |
| 地址 | 100123 北京市朝阳区朝阳路67号院8#楼1单元1201室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要

| 摘要 | 本发明涉及一种多探测器及多光管的X射线荧光光谱仪,包括外壳组件、样品仓组件、X光管组件、探测器组件和滤光系统组件,其中样品仓组件组装在外壳组件内,包括向上开口的仓体和用于封闭仓体的仓门,仓体内有容置空间;X光管组件设多个,包括X光管,X光管的出射口朝向仓体的容置空间;探测器组件设多个,包括探测器,探测器的探测头朝向仓体的容置空间。本发明可以对置于在较大空间内的物品进行全方位的测定分析,测量时间短,准确度高,对安检、在线质量监控等领域的检测特别适用。 |





