一种表面波互谱分析相位折叠识别及相位展开校正方法

基本信息

申请号 CN201810495207.9 申请日 -
公开(公告)号 CN108829637B 公开(公告)日 2022-02-01
申请公布号 CN108829637B 申请公布日 2022-02-01
分类号 G06F17/14(2006.01)I 分类 计算;推算;计数;
发明人 柯文汇;柴华友;黄祥国;朱红西;匡文亮;田久晖;余焰春;吴吉武;涂东东;徐亚卓;任华庆;李领;周金峰;闵俊 申请(专利权)人 武汉市市政建设集团有限公司
代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人 唐万荣;王淳景
地址 430056 湖北省武汉市经济技术开发区春晓路6号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种表面波互谱分析相位折叠识别及相位展开校正方法,包括以下步骤:S1、由场地分层结构及层土性分类预估场地平均剪切波速度;S2、由表面两测点振动响应计算折叠相位谱及互功率谱;S3、确定分析频率范围;S4、从频率下限开始计算相邻两点间相位差,确定相位折叠位置处频率及折叠数量,并计算形成一个折叠所需平均频率值;S5、判断及剔除无效相位折叠,统计有效相位折叠数量;S6、在折叠相位谱上确定相位展开初始频率,对其相位进行校正;S7、从初始频率开始,对折叠相位展开,计算表面波在两点之间实际相位差。本发明可以有效解决初始频率处相位折叠数损失以及干扰信号产生的虚假折叠,确保折叠相位谱展开正确性。