一种实用的电子产品寿命评估模型参数高精度萃取方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种实用的电子产品寿命评估模型参数高精度萃取方法

基本信息

申请号	CN201010572200.6	申请日	-
公开（公告）号	CN102103658B	公开（公告）日	2014-05-14
申请公布号	CN102103658B	申请公布日	2014-05-14
分类号	G06F19/00(2011.01)I	分类	计算；推算；计数;
发明人	孙博;冯强;曾声奎;任羿;郭健彬;马纪明	申请（专利权）人	北京可维创业科技有限公司
代理机构	北京慧泉知识产权代理有限公司	代理人	王顺荣;唐爱华
地址	100191 北京市海淀区花园东路10号高德大厦1203室
法律状态	-

摘要

一种实用的电子产品寿命评估模型参数高精度萃取方法包括如下步骤：(1)确定失效物理模型及待萃取的模型参数；(2)获取产品几何和材料参数的均值和上下限，并采用工艺能力指数表征其不确定性；(3)根据产品几何和材料参数的均值估算失效物理模型的初始模型参数；(4)根据几何和材料参数的分布类型抽样获得其随机值；(5)结合Monte-Carlo仿真方法获得产品寿命的随机值；(6)根据寿命随机值得到产品寿命的理论分布函数；(7)采用残存比率法对试验失效数据进行处理得到产品寿命的经验分布函数；(8)利用K-S检验方法对上述两个寿命分布函数的拟合度进行检验；(9)对模型参数进行寻优萃取，直到获得拟合度最优的模型参数。