一种准确测量静磁场B0分布的方法
基本信息
| 申请号 | CN201410405102.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104155621A | 公开（公告）日 | 2014-11-19 |
| 申请公布号 | CN104155621A | 申请公布日 | 2014-11-19 |
| 分类号 | G01R33/24(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 鲍庆嘉;刘朝阳;陈黎;宋侃;陈方 | 申请（专利权）人 | 武汉中科云楚科技有限公司 |
| 代理机构 | 武汉宇晨专利事务所 | 代理人 | 中国科学院武汉物理与数学研究所;武汉中科云楚科技有限公司 |
| 地址 | 430071 湖北省武汉市小洪山西30号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种准确测量静磁场B0分布的方法，包括以下步骤：输入脉冲序列及参数；自动优化回波间隔时间；采集两次回波数据，处理回波数据获得相位差数据；将频率编码梯度反向，采集两次回波数据，处理回波数据获得相位差数据；获得最终的相位差数据；计算获得磁场分布数据。本发明采用自旋回波重聚磁场不均匀性对静磁场B0测量的影响，减小由于磁场不均匀性引入的信噪比损失。自动优化两次回波时间ΔTE，可自动获得最大信噪比的相位差数据。采用正向、反向梯度方式两次测量相位差数据的方式消除由于磁场不均匀性引入的编码不准确，提高相位差数据的准确性，以拟合的静磁场分布说明新方法的有效性。 |
