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射频压电器件的性能调试方法、装置及相关产品

基本信息

申请号 CN202010754398.3 申请日 -
公开（公告）号 CN111880982A 公开（公告）日 2020-11-03
申请公布号 CN111880982A 申请公布日 2020-11-03
分类号 G06F11/22(2006.01)I 分类 计算；推算；计数;
发明人 陈志熙;刘洁;石佳;滕洪亮 申请（专利权）人 南京星火技术有限公司
代理机构 北京合智同创知识产权代理有限公司 代理人 李杰
地址 210032江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦14楼
法律状态 -

摘要

摘要 本申请实施例提供提供一种射频压电器件的性能调试方法、装置及相关产品，方法包括：获取射频压电器件的当前性能参数的值；判断当前性能参数的值是否达到射频压电器件合格时具备的目标性能参数的值；若当前性能参数的值达不到目标性能参数的值，则获取光学设备提取的射频压电器件的图像；根据图像，识别出在射频压电器件中设计的用于性能调试的调试部位；对射频压电器件的性能进行分析，生成将当前性能参数的值调整到目标性能参数的值的最优策略；根据最优策略，通过调整调试部位的物理属性，调整射频压电器件的物理结构以使得射频压电器件具有目标性能参数的值，从而实现了对射频压电器件进行性能调试。