基于k_tSL中心聚类算法的工业元件表面缺陷检测方法
基本信息
| 申请号 | CN201610839951.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106373123B | 公开（公告）日 | 2019-01-08 |
| 申请公布号 | CN106373123B | 申请公布日 | 2019-01-08 |
| 分类号 | G06T7/00;G06T7/13 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 林伟阳;李湛;梅江元;高会军;靳万鑫;于金泳;杨宪强;孙光辉 | 申请（专利权）人 | 哈尔滨工业大学资产投资经营有限责任公司 |
| 代理机构 | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 | 代理人 | 哈尔滨工业大学;宁波智能装备研究院有限公司 |
| 地址 | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 基于k_tSL中心聚类算法的工业元件表面缺陷检测方法，涉及基于机器视觉的工业元件表面缺陷检测技术。目的是为了解决现有主流工业产品表面缺陷检测技术在有干扰的情况下，检测精度低、稳定性差的问题。本发明首先对相机采集到的图像进行待测区域分割，得到元件的多个表面块感兴趣区域，对每一个表面块感兴趣区域的每一个像素位置进行特征提取，对多维特征使用K‑tSL中心聚类算法进行聚类，选取覆盖面积大于50％的连通区域作为正常区域，其余部分为缺陷部分，根据连通区域的大小判断工业元件是否合格。上述方法稳定性好，检测精度高，可以应用到工业元件的自动生产和监测中。 |
