一种采用均匀切片和拐点特征提取的腭皱识别方法
基本信息
| 申请号 | CN201911130386.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111222407B | 公开（公告）日 | 2022-07-01 |
| 申请公布号 | CN111222407B | 申请公布日 | 2022-07-01 |
| 分类号 | G06V40/10（2022.01）I;G06V10/46（2022.01）I;G06V10/75（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 武有成;上官宏;李冰;王安红;张雄;罗强 | 申请（专利权）人 | 太原科技大学 |
| 代理机构 | 太原中正和专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 030024山西省太原市万柏林区窊流路66号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明属于人体生物特征法医同一认定技术领域，具体技术方案为：一种采用均匀切片和拐点特征提取的腭皱识别方法，具体步骤为：一、获取三维腭皱数据；二、对三维腭皱数据进行均匀切片，对所有切片进行数据预处理，获取腭皱切线的坐标序列；三、提取每个切片腭皱切线的拐点和拐角特征，所有腭皱切线的坐标位置、拐点及拐角共同组成腭皱的特征向量；四、逐一比对测试样本特征和样本特征库中的特征，输出匹配结果；本方法提出的均匀切片和拐点特征提取的方法，弥补了现有三维腭皱数据识别方法欠缺的问题，识别效果可观。 |
