一种晶圆测试夹具
基本信息
申请号 | CN202121515537.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN215415527U | 公开(公告)日 | 2022-01-04 |
申请公布号 | CN215415527U | 申请公布日 | 2022-01-04 |
分类号 | G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 丁兆达;高强;历德义 | 申请(专利权)人 | 上海季丰电子股份有限公司 |
代理机构 | 上海申新律师事务所 | 代理人 | 吴轶淳 |
地址 | 201100上海市闵行区友东路258-288号2幢101室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型提供一种晶圆测试夹具,涉及晶圆测试技术领域,包括:一箱体,箱体内横向设有至少一托盘,各托盘表面设有至少一晶圆放置层,箱体的垂直于托盘且相对设置的至少一组侧面之间设有通风通道。有益效果是本夹具采用质地偏软的铁氟龙材料,可以有效保护晶圆,且利用通风通道可以让风均匀吹过晶圆表面,使晶圆表面温度均匀、受力均匀。 |
