用于芯片老化测试的驱动电平调节电路及系统
基本信息
| 申请号 | CN202111574533.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114200289A | 公开（公告）日 | 2022-03-18 |
| 申请公布号 | CN114200289A | 申请公布日 | 2022-03-18 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/02（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈吉锋;谈昳晔;倪卫华;郑朝晖 | 申请（专利权）人 | 上海季丰电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京超凡宏宇专利代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 舒淼 |
| 地址 | 201203上海市浦东新区祖冲之路1505弄55号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种用于芯片老化测试的驱动电平调节电路及系统，涉及芯片测试技术领域，该驱动电平调节电路包括：驱动输入端、数字信号处理器、数字模拟转换器、比较器、驱动输出端、第一场效应管、第一电阻、第一电容和第二电容。该驱动电平调节电路可通过加载预设的逻辑输入并通过占空比来调节输出电压的电平，通过调节内置的电容及电阻实现对提高测试电路的兼容性，同时实现了利用数字信号产生低速模拟信号；该调节电路结构简单，解决了现有技术中芯片老化测试电路存在的兼容差的问题，并节省了测试资源。 |
