一种GaN基HEMT器件及其制备方法和应用
基本信息
申请号 | CN202210148255.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114664938A | 公开(公告)日 | 2022-06-24 |
申请公布号 | CN114664938A | 申请公布日 | 2022-06-24 |
分类号 | H01L29/45(2006.01)I;H01L29/417(2006.01)I;H01L29/40(2006.01)I;H01L29/778(2006.01)I;H01L21/335(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 袁旭;于国浩;赵德胜;张宝顺 | 申请(专利权)人 | 广东中科半导体微纳制造技术研究院 |
代理机构 | 广州粤高专利商标代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 528216广东省佛山市南海区狮山镇科教路1号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种GaN基HEMT器件及其制备方法和应用。本发明所述制备方法通过在GaN材料中注入n型离子并结合激活保护层进行高温激活,形成了高质量低电阻的欧姆接触,实现了低温欧姆制备工艺。同时,本发明所述金属的退火温度低,满足场板的制作工艺,进而可以通过一次金属淀积形成源极、漏极和漏场板,克服了现有GaN基HEMT器件欧姆接触电阻较大以及工艺复杂的缺陷/不足,具有广泛的应用前景。 |
